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薄膜测厚仪适用领域与产品特点分享
发布时间:2022-07-14   点击次数:131次
  薄膜测厚仪采用机械式测量方法,适用于塑料薄膜量程范围内各种材料的精确厚度测量。另外具有电脑通信接口,通过选购软件实现数据的性存储、查询、打印;软件功能强大,可将成组试验数据用柱形图或列表方式进行统计,试结报告可直接在局域网或广域网中进行传输。适用于塑料薄膜、薄片的厚度测试,还可适用于纸张、纸板的厚度测试、箔片、硅片、金属片的厚度测、试纺织材料的厚度测试、固体电绝缘体的厚度测试。
 
  薄膜测厚仪特点
 
  1.通过显微光谱法测量高精度反射率(多层膜厚度,光学常数);
 
  2.头部集成了薄膜厚度测量所需功能;
 
  3.区域传感器的安全机制;
 
  4.显微分光下广范围的光学系统(紫外至近红外);
 
  5.高速测量;
 
  6.测量头对应各种客制化需求;
 
  7.易于分析向导,初学者也能够进行光学常数分析;
 
  8.支持各种自定义。
 
  机械式测厚仪是一种接触式测厚设备,多采用高精度传感器,因为它的测试只和微小位移有关,所以对试样没有选择性。机械式测厚仪的测试精度主要取决于位移传感器的精度,环境温度和风速会影响传感器的精度,因此必须在实验室环境内使用。
 
  薄膜测厚仪使用显微光谱法在微小区域内通过反射率进行测量,可进行高精度膜厚度、光学常数分析。可通过非破坏性和非接触方式测量涂膜的厚度,例如各种膜、晶片、光学材料和多层膜。测量时间上,能达到1秒/点的高速测量,并且搭载了即使是初次使用的用户,也可容易出分析光学常数的软件。
北京德力爱得测控技术有限公司

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